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在材料科學(xué)與地質(zhì)研究的廣袤天地里，多晶X射線衍射儀，憑借其原理與強(qiáng)大功能，開啟眾多測(cè)試對(duì)象微觀結(jié)構(gòu)分析的大門。對(duì)于各類無(wú)機(jī)非金屬材料，以陶瓷為例，無(wú)論是日常所用的精美瓷具，還是工業(yè)領(lǐng)域的耐高溫陶瓷零部件，多晶X射線衍射儀都能大顯身手。通過(guò)向陶瓷樣品發(fā)射X射線并接收衍射信號(hào)，精準(zhǔn)確定陶瓷的物相組成，分辨出是莫來(lái)石、石英還是其他晶相，為優(yōu)化燒制工藝、調(diào)控性能提供關(guān)鍵依據(jù)。在水泥生產(chǎn)中，它能檢測(cè)熟料礦物成分，確保水泥質(zhì)量穩(wěn)定，從微觀層面把控強(qiáng)度、凝結(jié)時(shí)間等宏觀性能。玻璃這種看似均質(zhì)...

在材料科學(xué)、化學(xué)分析以及生命科學(xué)等眾多前沿領(lǐng)域中，TOF-SIMS（飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜）質(zhì)譜儀以其優(yōu)勢(shì)成為了一種極為重要的分析工具。它能夠在分子水平上對(duì)樣品表面進(jìn)行化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)的表征，而其模式的合理設(shè)置則是實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量分析結(jié)果的關(guān)鍵所在。TOF-SIMS質(zhì)譜儀基于二次離子發(fā)射的原理開展工作。當(dāng)一束脈沖式的初級(jí)離子束轟擊樣品表面時(shí)，會(huì)引發(fā)樣品表面的原子或分子產(chǎn)生電離，形成二次離子并濺射出來(lái)。這些二次離子隨后被加速、飛行，并根據(jù)其質(zhì)荷比在飛行時(shí)間探測(cè)器中被檢測(cè)和分析，從而獲得樣...

Lexsyg釋光探測(cè)器|在材料表征科研領(lǐng)域應(yīng)用分享新型硼酸鑭銪材料熱釋光研究突破，環(huán)境輻射監(jiān)測(cè)潛力明顯文章來(lái)源：https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.108571導(dǎo)語(yǔ)近日，一項(xiàng)關(guān)于摻銪硼酸鑭（LaB3O6:Eu3?）材料的熱釋光（TL）行為研究取得重要進(jìn)展。該研究通過(guò)創(chuàng)新合成方法與先進(jìn)儀器聯(lián)用，揭示了材料在輻射劑量檢測(cè)中的優(yōu)異性能，為環(huán)境輻射監(jiān)測(cè)提供了新思路。研究背景硼酸鹽材料因原子序數(shù)與人體軟組織接近，是理想的輻射劑量檢測(cè)候選...

告別薄膜手動(dòng)測(cè)試“苦?！保〗怄i樣品自動(dòng)測(cè)試，提升效率與，結(jié)果更可靠！|薄膜樣品自動(dòng)測(cè)試方案詳解（XRD）布魯克X射線部門孟璐高校測(cè)試樣品使用自動(dòng)化方法的必要性日益凸顯。面對(duì)日益增長(zhǎng)的樣品數(shù)量和復(fù)雜度，材料與設(shè)備的學(xué)習(xí)門檻使得傳統(tǒng)人工操作效率低下、易出錯(cuò)，且耗費(fèi)大量寶貴的人力資源與時(shí)間。自動(dòng)化方法能明顯提升測(cè)試通量，大幅縮短實(shí)驗(yàn)周期。更重要的是，它能嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)化操作流程，大限度的減少人為誤差，確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的精確性與可重復(fù)性，這是高水平科研的基石。自動(dòng)化不僅釋放科研人員精力，使其專...

粉末衍射儀是一種在材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)等領(lǐng)域極為重要的分析儀器，它主要通過(guò)對(duì)粉末樣品的衍射現(xiàn)象研究來(lái)揭示材料的晶體結(jié)構(gòu)信息。其工作方式基于X射線或中子束與晶體的相互作用。當(dāng)一束單色X射線或中子束照射到粉末樣品上時(shí)，會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象。這是因?yàn)榫w中原子或離子的排列具有周期性，相當(dāng)于一個(gè)個(gè)微小的三維光柵。根據(jù)布拉格定律，當(dāng)入射波長(zhǎng)、衍射角和晶面間距滿足特定關(guān)系時(shí)，就會(huì)在某些特定的方向上產(chǎn)生衍射光束。在實(shí)際操作中，粉末衍射儀通常將粉末樣品制成平板狀或裝入特殊的樣品架中，然后將其置于...

在材料科學(xué)、化學(xué)、物理及表面科學(xué)等領(lǐng)域，深入了解樣品的微觀結(jié)構(gòu)和電子態(tài)是推動(dòng)研究與技術(shù)進(jìn)步的關(guān)鍵。光電子能譜儀作為一種強(qiáng)大的表面分析工具，以其探測(cè)能力，為科學(xué)家提供了揭示樣品深層信息的窗口。下面將探討能譜儀能夠檢測(cè)樣品的哪些關(guān)鍵信息，以及這些信息如何助力科學(xué)研究。一、元素組成與化學(xué)態(tài)分析能譜儀的核心功能之一是確定樣品表面的元素組成及其化學(xué)狀態(tài)。當(dāng)高能光子（如X射線或紫外光）照射到樣品上時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品中的電子逸出，形成光電子。通過(guò)測(cè)量這些光電子的能量分布，可以識(shí)別出樣品中存在的...

在現(xiàn)代檢測(cè)與分析領(lǐng)域，X射線三維成像為諸多行業(yè)帶來(lái)革新性視角，深度挖掘物體內(nèi)部奧秘。X射線三維成像顯著特點(diǎn)之一是高穿透性。X射線波長(zhǎng)較短，能量充沛，輕松穿透常規(guī)材料，無(wú)論是金屬合金的致密軀體、陶瓷的堅(jiān)硬骨架，還是塑料、橡膠等有機(jī)高分子物質(zhì)，都難以阻擋其前行腳步。這一特性使其能直達(dá)物體內(nèi)部深處，為隱藏瑕疵、復(fù)雜結(jié)構(gòu)探查開辟通道，像工業(yè)鑄件內(nèi)部微小氣孔、夾雜物，在它面前無(wú)所遁形，保障產(chǎn)品內(nèi)在質(zhì)量把控。其具備精準(zhǔn)呈現(xiàn)內(nèi)部三維結(jié)構(gòu)的能力。不同于傳統(tǒng)二維X光片僅展示平面投影、易造成重疊...

DSIMS（動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜）技術(shù)實(shí)現(xiàn)元素分析主要通過(guò)以下方式：一、離子源轟擊樣品1、產(chǎn)生一次離子束：DSIMS利用電子光學(xué)方法將惰性氣體等物質(zhì)形成初級(jí)離子，并通過(guò)加速和聚焦形成細(xì)小的高能離子束。常見(jiàn)的一次離子包括銫（Cs?）或氧（O??）離子等，這些離子在加速電壓作用下獲得特定能量。2、轟擊樣品表面：高能的一次離子束以一定的能量和束流大小轟擊樣品表面，這一過(guò)程使樣品表面的原子或分子獲得能量。二、二次離子產(chǎn)生1、濺射過(guò)程：一次離子束轟擊樣品表面時(shí)，與樣品表面的原子或分子發(fā)生相...